ASTM F1893-18

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices (Withdrawn 2023)

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.3.2018


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 755.60 bez DPH
1 755.60

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1893-18
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.3.2018
Kód zboží: NS-844678
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotace textu normy ASTM F1893-18 :

Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.