GOST 24453-80
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM E2444-11e1
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).
Automaticky přeložený název:
Terminologie V souvislosti s měření provedených na tenkých, Reflexní fólie
NORMA vydána dne 15.10.2011
Informace o normě:
Označení normy: ASTM E2444-11e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.10.2011
Kód zboží: NS-45312
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Kategorie - podobné normy:
Elektronika (názvosloví)
Mechanické konstrukce pro elektronická zařízení
Anotace textu normy ASTM E2444-11e1 :
Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
Doplňující informace
| 1. Scope | ||||||||
|
1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||
|
Podobné normy:
1.1.1982
1.7.1992
1.1.1984
1.1.1991
1.1.1985
1.1.1989
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
