Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).
Automaticky přeložený název:
Terminologie V souvislosti s měření provedených na tenkých, Reflexní fólie
NORMA vydána dne 15.10.2011
Označení normy: ASTM E2444-11e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.10.2011
Kód zboží: NS-45312
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Elektronika (názvosloví)
Mechanické konstrukce pro elektronická zařízení
Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
1. Scope | ||||||||
1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
||||||||
2. Referenced Documents | ||||||||
|
1.1.1982
1.7.1992
1.1.1984
1.1.1991
1.1.1985
1.1.1989
Poslední aktualizace: 02.05.2024 (Počet položek: 2 896 910)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.