ASTM E2444-11e1

Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).

Automaticky přeložený název:

Terminologie V souvislosti s měření provedených na tenkých, Reflexní fólie



NORMA vydána dne 15.10.2011


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 536.70 bez DPH
1 536.70

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2444-11e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.10.2011
Kód zboží: NS-45312
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E2444-11e1 :

Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.