Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM E2444-05e1
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 12/23/2011).
Automaticky přeložený název:
Terminologie V souvislosti se měření provedených na tenkých , Reflecting Films
NORMA vydána dne 1.5.2005
Informace o normě:
Označení normy: ASTM E2444-05e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2005
Kód zboží: NS-45310
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM E2444-05e1 :
Keywords:
ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
Doplňující informace
| 1. Scope | ||||||||
|
1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||
|
Doporučujeme:
