Normy DIN - Německé národní normy - strana 16666

Semiconductor devices; integrated circuits; part 20: generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits; identical with IEC 60748-20:1988.

NEPLATNÁ vydána dne 1.10.1990

Semiconductor devices; integrated circuits; part 3: analogue integrated circuits; section one: blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers; identical with IEC 60748-3-1:1991.

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994

Semiconductor devices; integrated circuits; part 3: analogue integrated circuits; identical with IEC 60748-3:1986.

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.1993

Semiconductors devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits; Dynamic criteria for Analogue-Digital Converters (ADC).

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General.

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku)..)

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly.

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2023

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 12: Vibrace, proměnlivý kmitočet. (Text normy není součástí výtisku)..)

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency.

NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší. (Text normy není součástí výtisku)..)

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2003