Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy DIN - Německé národní normy - strana 16620

DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy DIN - strana 16620" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (40214)

Neplatné (158905)

DIN EN 60749-15:2011-06 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2011

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (1528.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 528.00 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN IEC 60749-15:2019-12 1.12.2019

E DIN EN IEC 60749-15:2019-12 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.

NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2019

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1528.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 528.00 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-16:2002-05 1.5.2002

E DIN EN 60749-16:2002-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) test.

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2002

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1009.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 009.00 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-17:2002-05 1.5.2002

E DIN EN 60749-17:2002-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2002

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1009.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 009.00 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-17:2003-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 17: Neutronové záření. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2003

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (1009.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 009.00 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN 60749-17:2018-07 1.7.2018

E DIN EN 60749-17:2018-07 NEPLATNÁ

VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2018

Vybrané provedení:

Německy -

Tištěné (503.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

503.50 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-18:2002-05 1.5.2002

E DIN EN 60749-18:2002-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionising Radiation (total dose); Test procedure.

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2002

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1688.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 688.30 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-18:2003-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 18: Ionizující záření (celková dávka) .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2003

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (1864.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 864.40 Kč

SKLADEM