IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 995

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 995

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 995" dle:    


IEC 62878-2-602-ed.1.0

Device embedding assembly technology - Part 2-602: Guideline for stacked electronic module - Evaluation method of inter-module electrical connectivity
(Techniques d’assemblage avec appareil(s) integre(s) - Partie 2-602: Lignes directrices pour un empilement de modules electroniques - Methode d’evaluation de la connectivite electrique entre modules)

Norma vydána dne 22.6.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 562.90


SKLADEM
IEC/TR 62878-2-7-ed.1.0

Device embedding assembly technology - Part 2-7: Guidelines - Accelerated stress testing of passive embedded circuit boards

Norma vydána dne 20.3.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 562.90


SKLADEM
IEC/TR 62878-2-8-ed.1.0

Device embedding assembly technology - Part 2-8: Guidelines - Warpage control of active device embedded substrate

Norma vydána dne 7.7.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 562.90


SKLADEM
IEC/TR 62878-2-9-ed.1.0

Device embedding assembly technology - Part 2-9: Guidelines - Concept of JISSO level in the electronic assembly technology industries

Norma vydána dne 27.4.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 562.90


SKLADEM
IEC 62880-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard

Norma vydána dne 23.8.2017

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 805.50


SKLADEM
IEC 62881-ed.1.0

Cause and effect matrix
(Matrice des causes et effets)

Norma vydána dne 10.10.2018

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 562.90


SKLADEM
IEC 62881-ed.1.0/Cor.1 Oprava

Corrigendum 1 - Cause and effect matrix
(Corrigendum 1 - Matrice des causes et effets)

Oprava vydána dne 23.4.2019

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
32.00


SKLADEM
IEC/TS 62882-ed.1.0

Hydraulic machines - Francis turbine pressure fluctuation transposition

Norma vydána dne 18.9.2020

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
12 814.60


SKLADEM
IEC 62884-1-ed.1.0

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 1: Methodes fondamentales pour le mesurage)

Norma vydána dne 8.6.2017

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 052.60


SKLADEM
IEC 62884-2-ed.1.0

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 2 : Methode de mesure de la gigue de phase)

Norma vydána dne 30.8.2017

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 805.50


SKLADEM

Zobrazen záznam od 9940 až 9950 z celkem 10842 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.