Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 798
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
IEC 62047-41-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)
Norma vydána dne 15.6.2021
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-42-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Norma vydána dne 16.9.2022
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-43-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Norma vydána dne 19.3.2024
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-44-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Norma vydána dne 22.2.2024
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-45-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures
Norma vydána dne 20.3.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-46-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
Norma vydána dne 23.4.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-47-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
Norma vydána dne 23.8.2024
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-48-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Norma vydána dne 7.6.2024
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-49-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers
Norma vydána dne 25.11.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-5-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Norma vydána dne 13.7.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
