Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 398
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
IEC 60749-42-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 42: Stockage de temperature et d´humidite)
Norma vydána dne 12.8.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-44-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 44: Methode d´essai des effets d´un evenement isole (SEE) irradie par un faisceau de neutrons pour des dispositifs a semiconducteurs)
Norma vydána dne 21.7.2016
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-5-ed.3.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de duree de vie sous temperature et humidite avec polarisation)
Norma vydána dne 19.12.2023
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-5-ed.3.0-RLV
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Norma vydána dne 19.12.2023
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-6-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 6: Stockage a haute temperature)
Norma vydána dne 3.3.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-7-ed.3.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidite interne et analyse des autres gaz residuels)
Norma vydána dne 27.11.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-8-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)
Norma vydána dne 30.8.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)
Oprava vydána dne 23.4.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.2
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)
Oprava vydána dne 12.8.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-9-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage)
Norma vydána dne 3.3.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
