Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-40-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 40: Board poklesu hladiny testovací metoda pomocí tenzometru
NORMA vydána dne 13.7.2011
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-40-ed.1.0
Datum vydání normy: 13.7.2011
Kód zboží: NS-411416
Počet stran: 44
Přibližná hmotnost: 132 g (0.29 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60749-40-ed.1.0 :
IEC 60749-40:2011 is intended to evaluate and compare drop performance of a surface mount semiconductor device for handheld electronic product applications in an accelerated test environment, where excessive flexure of a circuit board causes product failure. The purpose is to standardize test methodology to provide a reproducible assessment of the drop test performance of a surface mounted semiconductor devices while duplicating the failure modes normally observed during product level test. This international standard uses a strain gauge to measure the strain and strain rate of a board in the vicinity of a component. La CEI 60749-40:2011 est destinee a evaluer et comparer la performance de chute dun dispositif a semiconducteurs pour montage en surface dans des applications de produits electroniques portatifs dans un environnement dessai accelere, ou une flexion excessive dune carte a circuit imprime provoque une defaillance du produit. Le but est de normaliser la methodologie dessai pour fournir une evaluation reproductible de la performance dessai de chute des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface, en reproduisant les memes modes de defaillance que ceux observes normalement au cours dun essai au niveau du produit. La presente norme internationale utilise une jauge de contrainte pour mesurer la contrainte et le taux de contrainte dune carte au voisinage dun composant.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
