Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 390
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
IEC 60748-4-1-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface - Section 1: Specification particuliere cadre pour les convertisseurs lineaires numeriques-analogiques)
Norma vydána dne 11.11.1993
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60748-4-2-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC)
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface - Section 2: Specification particuliere cadre pour les convertisseurs lineaires analogiques-numeriques)
Norma vydána dne 11.11.1993
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60748-4-3-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)
Norma vydána dne 29.8.2006
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60748-4-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface)
Norma vydána dne 23.4.1997
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60748-5-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 5: Semicustom integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 5: Circuits integres semi-personnalises)
Norma vydána dne 30.5.1997
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-1-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Norma vydána dne 30.8.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Oprava vydána dne 12.8.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-10-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d’essais mecaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mecaniques - Dispositif et sous-ensemble)
Norma vydána dne 27.4.2022
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-11-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Norma vydána dne 12.4.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydána dne 30.1.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
