Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

IEC 60748-23-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests

Automaticky přeložený název:

Polovodičové zařízení - Integrované obvody - Část 23-2: Hybridní integrované obvody a filmové konstrukce - certifikace výrobní linky - Vnitřní vizuální prohlídka a zvláštní zkoušky

NORMA vydána dne 23.5.2002

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 12 018.20 Kč Tištěné - 12 018.20 Kč CD-ROM - 12 058.20 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	12 018.20 Kč bez DPH
12 018.20 Kč

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60748-23-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 23.5.2002
Kód zboží: NS-411346
Počet stran: 97
Přibližná hmotnost: 322 g (0.71 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Integrované obvody. Mikroelektronika

Anotace textu normy IEC 60748-23-2-ed.1.0 :

Applies to high quality approval systems for hybrid integrated circuits and film structures. The purpose of the tests is to perform visual inspections on the internal materials, construction and workmanship of hybrid, multichip and multichip module microcircuits and passive elements used for microelectronic applications including r.f./microwave. These tests will normally be used on microelectronic devices prior to capping or encapsulation to detect and eliminate devices with internal non-conformances that could lead to device failure in normal application. They may also be employed on a sampling basis to determine the effectiveness of the manufacturers quality control and handling procedures.