IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 259

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 259

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 259" dle:    


IEC 60442-ed.2.0/Amd.1 Změna

Amendment 1 - Electric toasters for household and similar purposes - Methods for measuring the performance
(Amendement 1 - Grille-pain electriques pour usages domestiques et analogues - Methode de mesure de l´aptitude a la fonction)

Změna vydána dne 7.2.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
316.60


SKLADEM
IEC 60442-ed.2.1+Amd.1-CSV

Electric toasters for household and similar purposes - Methods for measuring the performance
(Grille-pain electriques pour usages domestiques et analogues - Methode de mesure de l´aptitude a la fonction)

Norma vydána dne 4.3.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 691.10


SKLADEM
IEC 60444-1-ed.2.0

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-network
(Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 1: Methode fondamentale pour la mesure de la frequence de resonance et de la resistance de resonance des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi)

Norma vydána dne 15.8.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 065.50


SKLADEM
IEC 60444-1-ed.2.0/Amd.1 Změna

Amendment 1 - Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-network
(Amendement 1 - Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Premiere partie: Methode fondamentale pour la mesure de la frequence de resonance et de la resistance de resonance des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi)

Změna vydána dne 13.8.1999

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
633.20


SKLADEM
IEC 60444-11-ed.1.0

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
(Mesure des parametres des resonateurs a quartz - Partie 11: Methode normalisee pour la determination de la frequence de_resonance a la charge fL et de la capacite de charge efficace CLeff utilisant des analyseurs automatiques de reseaux et correction des erreurs)

Norma vydána dne 7.10.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 532.80


SKLADEM
IEC 60444-2-ed.1.0

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
(Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Deuxieme partie: Methode de decalage de phase pour la mesure de la capacite dynamique des quartz)

Norma vydána dne 1.1.1980

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 266.40


SKLADEM
IEC/TR 60444-4-ed.1.0

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz
(Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Partie 4: Methode pour la mesure de la frequence de resonance a la charge fL et de la resistance de resonance a la charge RL et pour le calcul des autres valeurs derivees des quartz piezoelectriques, jusqu´a 30 MHz)

Norma vydána dne 30.6.1988

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 532.80


SKLADEM
IEC 60444-5-ed.1.0

Measurement of quartz crystal units parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and error correction
(Mesure des parametres des resonateurs a quartz - Partie 5: Methodes pour la determination des parametres electriques equivalents utilisant des analyseurs automatiques de reseaux et correction des erreurs)

Norma vydána dne 7.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 339.60


SKLADEM
IEC 60444-6-ed.3.0

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
(Mesure des parametres des resonateurs a quartz - Partie 6: Mesure de la dependance du niveau d’excitation (DNE))

Norma vydána dne 1.9.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 065.50


SKLADEM
IEC 60444-6-ed.3.0-RLV

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)

Norma vydána dne 1.9.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 611.40


SKLADEM

Zobrazen záznam od 2580 až 2590 z celkem 11483 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.