Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60444-2-ed.1.0
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Automaticky přeložený název:
Měření křemen parametrů zařízení nulovou fázovou technikou v pi-síť. Část 2: Phase offset metoda měření pohybové kapacity křemenných krystalových jednotek
NORMA vydána dne 1.1.1980
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60444-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 1.1.1980
Kód zboží: NS-410248
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60444-2-ed.1.0 :
Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. Decrit une methode de mesure de la capacite dynamique des quartz dans une gamme de frequences de 1 MHz a 125 MHz avec une erreur totale de mesure de lordre de 5%.
Podobné normy:
25.7.1996
25.11.2010
9.11.2000
10.8.2000
15.8.1986
7.10.2010
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
