IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1076

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1076

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 1076" dle:    


IEC 63267-2-2-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Connector optical interfaces for enhanced macro bend multimode fibres - Part 2-2: Connection parameters of physically contacting 50 µm core diameter fibres - Non-angled and angled for reference connector applications
(Dispositifs d´interconnexion et composants passifs fibroniques – Interfaces optiques de connecteurs pour fibre multimodale a performances ameliorees par macrocourbures – Partie 2-2: Parametres de connexion de fibres de diametre de cour de 50 µm en contact physique - Fibres inclinees et non inclinees pour les applications de connecteurs de reference)

Norma vydána dne 15.3.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 490.20


SKLADEM
IEC/PAS 63267-3-30-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Fibre optic connector optical interfaces - Part 3-30: End face geometry - Angled PC end face PPS rectangular ferrule multimode A1b fibres

Norma vydána dne 27.5.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 245.10


SKLADEM
IEC/PAS 63267-3-31-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Fibre optic connector optical interfaces - Part 3-31: End face geometry - Flat PC PPS rectangular ferrule multimode fibres

Norma vydána dne 7.2.2020

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 490.20


SKLADEM
IEC/SRD 63268-ed.1.0

Energy and data interfaces of users connected to the smart grid with other smart grid stakeholders - Standardization landscape

Norma vydána dne 29.10.2020

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 361.70


SKLADEM
IEC 63269-ed.1.0

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results
(Materiels et systemes de navigation et de radiocommunication maritimes - Dispositifs de localisation des survivants en mer (dispositifs en cas d´homme a la mer) - Exigences minimales, methodes d´essai et resultats d´essai exiges)

Norma vydána dne 25.5.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 961.00


SKLADEM
IEC 63272-ed.1.0

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Norma vydána dne 7.8.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 961.00


SKLADEM
IEC/SRD 63273-1-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Norma vydána dne 25.8.2023

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 361.70


SKLADEM
IEC/SRD 63273-2-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Norma vydána dne 3.4.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
12 762.50


SKLADEM
IEC/TR 63274-ed.1.0

Power consumption of high dynamic range television sets

Norma vydána dne 5.3.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 715.80


SKLADEM
IEC 63275-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Norma vydána dne 21.4.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 490.20


SKLADEM

Zobrazen záznam od 10750 až 10760 z celkem 11032 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.