Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 658
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
JIS K0139:2026
Zobrazit všechny technické informace
General rules for laser ablation ICP spectrometry
Norma vydána dne 23.3.2026
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0141:2000
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Data transfer format
Norma vydána dne 31.10.2000
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0142:2000
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Information formats
Norma vydána dne 31.10.2000
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0143:2023
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Norma vydána dne 20.2.2023
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0144:2018
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES) -- Introduction to use
Norma vydána dne 20.2.2018
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0145:2002
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales
Norma vydána dne 30.4.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0146:2002
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Norma vydána dne 30.4.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0147-1:2017
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
Norma vydána dne 21.8.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0147-2:2017
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
Norma vydána dne 21.8.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0148:2026
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis-Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Norma vydána dne 20.1.2026
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
