Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 339
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
JIS C5583:1992
Zobrazit všechny technické informace
Helical-scan video tape cassette system using 8 mm magnetic tape -- 8 mm Video
Norma vydána dne 31.8.1992
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5600:2006
Zobrazit všechny technické informace
Glossary of basic terms used in electrotechnology
Norma vydána dne 20.11.2006
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5601:1975
Zobrazit všechny technické informace
Glossary of terms used in electronics and telecommunications (radiotelecommunications No.1)
Norma vydána dne 30.6.1975
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5602:1986
Zobrazit všechny technické informace
Glossary of passive components for electronic equipment
Norma vydána dne 31.3.1986
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5603:1993
Zobrazit všechny technické informace
Terms and definitions for printed circuits
Norma vydána dne 31.7.1993
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-1:2017
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 1: Terms and definitions
Norma vydána dne 21.3.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-12:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Norma vydána dne 20.2.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-13:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
Norma vydána dne 20.2.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-18:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Norma vydána dne 22.12.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-19:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 19: Electronic compasses
Norma vydána dne 22.12.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
