Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy GB - Čínské národní normy - strana 2031

Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy GB - strana 2031" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (55471)

Neplatné (39081)

GB/T 26062-2010

Niobium and niobium-zirconium alloy wire

Norma vydána dne 10.1.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4846.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 846.50 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 26063-2023

Beryllium aluminium alloy

Norma vydána dne 6.8.2023

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4846.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 846.50 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 26064-2010

Lithium wafers

Norma vydána dne 10.1.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4846.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 846.50 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 26065-2010

Specification for polished test silicon wafers

Norma vydána dne 10.1.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (10744.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

10 744.30 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 26066-2010

practice for shallow etch pit detection on silicon

Norma vydána dne 10.1.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4333.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 333.60 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 26067-2010

Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers

Norma vydána dne 10.1.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5872.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 872.20 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 26068-2018

Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method

Norma vydána dne 28.12.2018

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (15360.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

15 360.00 Kč

do 5 pracovních dnů

GB/T 26069-2022

Annealed monocrystalline silicon wafers

Norma vydána dne 9.3.2022

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -