Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 26070-2010
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.1.2011
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 26070-2010
Datum vydání normy: 10.1.2011
Kód zboží: NS-881203
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
