BS - Britské národní normy - strana 7872

Normy BS - Britské národní normy - strana 7872

BSi - Společnost BSI British Standards je národním standardizačním úřadem Spojeného království (NSB) a jako taková byla i první na světě. Zastupuje ekonomické a společenské zájmy Spojeného království ve všech evropských a mezinárodních standardizačních organizacích i v rámci vývoje řešení podnikových informací pro britské organizace všech velikostí a oborů. Společnost BSI British Standards spolupracuje s výrobním průmyslem a průmyslem služeb, s podniky, s vládami i spotřebiteli tak, aby usnadnila tvorbu britských, evropských i mezinárodních norem. Součást organizace BSI Group, společnost BSI British Standards, úzce spolupracuje s vládou Spojeného královtsví, zejména skrze Oddělení pro inovace, univerzity a dovednosti (DIUS).

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy BS - strana 7872" dle:    


BS EN 60749-10:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 836.20


SKLADEM
BS EN 60749-12:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 12: Vibrace, proměnlivý kmitočet. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 10.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 836.20


SKLADEM
BS EN 60749-13:2002 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydána dne 17.9.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 836.20


SKLADEM
BS EN 60749-15:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )

NEPLATNÁ vydána dne 19.6.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 836.20


SKLADEM
BS EN 60749-15:2010 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )

NEPLATNÁ vydána dne 30.6.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 836.20


SKLADEM
BS EN 60749-17:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 17: Neutronové záření. )

NEPLATNÁ vydána dne 29.6.2004

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 836.20


SKLADEM
BS EN 60749-18:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 18: Ionizující záření (celková dávka).)

NEPLATNÁ vydána dne 7.7.2004

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 485.30


SKLADEM
BS EN 60749-20:2003 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 20: Odolnost v plastu zapouzdřených SMD součástek proti kombinovanému působení vlhkosti a tepla při pájení. )

NEPLATNÁ vydána dne 7.7.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 268.30


SKLADEM
BS EN 60749-20:2009 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 20: Odolnost v plastu zapouzdřených SMD součástek proti kombinovanému působení vlhkosti a tepla při pájení. )

NEPLATNÁ vydána dne 31.1.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 268.30


SKLADEM
BS EN 60749-21:2005 NEPLATNÁ

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Solderability.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 21: Pájitelnost. )

NEPLATNÁ vydána dne 5.12.2005

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 268.30


SKLADEM

Zobrazen záznam od 78710 až 78720 z celkem 89246 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.