Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Energy Absorbed by a Tire When Deformed by Slow-Moving Plunger
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2015
Vybrané provedení:Standard Test Method for Curl in Carbon Paper (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 10.2.2000
Vybrané provedení:Standard Test Method for Curl in Carbon Paper
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2005
Vybrané provedení:Standard Test Method for Curl in Carbon Paper (Withdrawn 2016)
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2010
Vybrané provedení:Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)
Vybrané provedení:Test Method for Flexural Strength (Modulus of Rupture) of Electronic-Grade Ceramics (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 27.5.1977
Vybrané provedení:Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Withdrawn 2008)
NEPLATNÁ vydána dne 27.5.1977
Vybrané provedení:Test Method for Determining Carrier Density in Silicon Epitaxial Layers by Capacitance-Voltage Measurements on Fabricated Junction or Schottky Diodes (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 16.11.2025 (Počet položek: 2 243 995)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.