Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing
NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2007
Vybrané provedení:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2012
Vybrané provedení:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2017
Vybrané provedení:Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Standard Practice for Preparing Silicon for Spreading Resistance Measurements (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1999
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 05.07.2025 (Počet položek: 2 207 347)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.