Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2008
Vybrané provedení:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2013
Vybrané provedení:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships
NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2019
Vybrané provedení:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 10.11.1997
Vybrané provedení:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 10.11.1997
Vybrané provedení:Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Standard Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Standard Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Standard Practice for Estimating the Power Spectral Density Function and Related Finish Parameters from Surface Profile Data
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 26.11.2025 (Počet položek: 2 248 445)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.