Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Guide for Use of Membrane Technology in Mitigating Hazardous Chemical Spills
NEPLATNÁ vydána dne 10.4.1996
Vybrané provedení:Standard Guide for Use of Membrane Technology in Mitigating Hazardous Chemical Spills (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2009
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination on Silicon Wafers by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2000
Vybrané provedení:Standard Guide for Application of Silicon Standard Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Standard Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.7.2002
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Boron Contamination in Heavily Doped N-Type Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999
Vybrané provedení:Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 5.12.1997
Vybrané provedení:Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1995
Vybrané provedení:Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydána dne 10.9.1995
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 13.06.2024 (Počet položek: 2 326 705)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.