Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Guide for Minimizing Unwanted Electron Beam Effects in Auger Electron Spectroscopy
NEPLATNÁ vydána dne 10.9.1999
Vybrané provedení:Standard Guide for Identifying Chemical Effects and Matrix Effects in Auger Electron Spectroscopy
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2006
Vybrané provedení:Standard Guide for Identifying Chemical Effects and Matrix Effects in Auger Electron Spectroscopy
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2012
Vybrané provedení:Standard Guide for Identifying Chemical Effects and Matrix Effects in Auger Electron Spectroscopy
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2001
Vybrané provedení:Standard Guide for Identifying Chemical Effects and Matrix Effects in Auger Electron Spectroscopy
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2001
Vybrané provedení:Standard Specification for Permanent Metal Railing Systems and Rails for Buildings (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydána dne 15.11.2006
Vybrané provedení:Standard Specification for Permanent Metal Railing Systems and Rails for Buildings (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2000
Vybrané provedení:Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2004
Vybrané provedení:Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2010
Vybrané provedení:Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2017
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 04.07.2025 (Počet položek: 2 207 347)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.