Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Standard Practice for Preparing Silicon for Spreading Resistance Measurements (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1999
Vybrané provedení:Test Method for Measuring Nonequilibrium Transient Photocurrents in P-N Junctions (Withdrawn 1995)
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Unsaturated TTL Sink Current
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1993
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Unsaturated TTL Sink Current (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1997
Vybrané provedení:Standard Test Method for Fluid and Grease Resistance of Thermoset Encapsulating Compounds Used in Electronic and Microelectronic Applications
NEPLATNÁ vydána dne 1.3.2004
Vybrané provedení:Standard Test Method for Fluid and Grease Resistance of Thermoset Encapsulating Compounds Used in Electronic and Microelectronic Applications
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2009
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 30.06.2026 (Počet položek: 2 285 193)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.