Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F674-92(1999)
Standard Practice for Preparing Silicon for Spreading Resistance Measurements (Withdrawn 2003)
Automaticky přeložený název:
Standardní praxe pro přípravu Silicon pro šíření Měření odporu (Withdrawn 2003 )
NORMA vydána dne 1.1.1999
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F674-92(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1999
Kód zboží: NS-56072
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F674-92(1999) :
Keywords:
Electrical conductors-semiconductors, silicon (high-resistivity, -type), preparing specimens for spreading, resistance measurement, practice,, Probe methods-spreading resistance probe, preparing high-resistivity -type silicon specimens, practice,, Resistance and resistivity (electrical)-semiconductors, preparing high-resistivity -type silicon specimens (for spreading, resistance measurement), practice,, Silicon-semiconductor applications
Doplňující informace
| 1. Scope |
|
This standard was transferred to SEMI (www.semi.org) May 2003 1.1 This practice covers the surface preparation of silicon samples prior to measurement of resistivity variations by the spreading resistance technique. 1.2 Separate procedures are given for preparation of large-area specimens for measurement of lateral resistivity variations and for preparation of bevel-sectioned specimens (usually small chips) for measurement of vertical variations of resistivity (depth profiling). Note 1-Benefits derived from diamond polishing are ( ) stability and reproducibility of spreading resistance values on large area or beveled specimens, and ( ) acuity of beveled surface geometry. The benefits of stability and reproducibility are likely to apply to both conductivity types and all resistivity values; however, they have been demonstrated extensively only for (111) -type above 1 [omega][dot]cm. Enhanced bevel acuity is independent of conductivity-type or resistivity value.1.3 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
