Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric) (Withdrawn 2022)
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2013
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1992
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric) (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Linear Threshold Voltage (Withdrawn 2006)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Method for Measuring MOSFET Saturated Threshold Voltage (Withdrawn 1985)
Vybrané provedení:Method for Measuring MOSFET Saturated Threshold Voltage (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1979
Vybrané provedení:Standard Practice for Extraction of Medical Plastics
NEPLATNÁ vydána dne 10.4.2002
Vybrané provedení:Standard Practice for Extraction of Medical Plastics
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2003
Vybrané provedení:Standard Practice for Extraction of Medical Plastics
NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2008
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 01.07.2026 (Počet položek: 2 285 809)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.