Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 15.5.1992
Vybrané provedení:Standard Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers (Withdrawn 2002) (Includes all amendments And changes 2/18/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2000
Vybrané provedení:Standard Specification for Carbonized Nickel Strip and Carbonized Nickel-Plated and Nickel-Clad Steel Strip for Electron Tubes
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999
Vybrané provedení:Standard Specification for Carbonized Nickel Strip and Carbonized Nickel-Plated and Nickel-Clad Steel Strip for Electron Tubes (Withdrawn 2010)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2005
Vybrané provedení:Method for Preparing Monocrystalline Test Ingots of Silicon by the Vertical-Pulling (Czochralski) Technique (Withdrawn 1988)
Vybrané provedení:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydána dne 10.9.2000
Vybrané provedení:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2004
Vybrané provedení:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2010
Vybrané provedení:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2019
Vybrané provedení:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2020
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 06.07.2026 (Počet položek: 2 286 164)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.