ASTM F398-92(2002)

Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro většinu Carrier koncentrace v polovodičích pomocí měření vlnočet nebo vlnové délky plazmového rezonance minima (Withdrawn 2003 )



NORMA vydána dne 15.5.1992


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 932.20 bez DPH
1 932.20

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F398-92(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.5.1992
Kód zboží: NS-55150
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F398-92(2002) :

Keywords:

gallium arsenide, germanium, infrared reflectance, majority carrier concentration, plasma resonance, semiconductors, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.