Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.2013
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Poznámka: Změna
Datum vydání normy: 1.1.2013
Kód zboží: NS-1118059
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Tato změna (oprava) patří k této normě:
UNE-EN 60749-27:2006
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM).)
Norma vydána dne 1.11.2006
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
