Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-27:2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.11.2006
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-27:2006
Datum vydání normy: 1.11.2006
Kód zboží: NS-1118060
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
K této normě náleží tyto změny:
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Změna
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM).)
Změna vydána dne 1.1.2013
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
