Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě.
NORMA vydána dne 21.12.2011
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Poznámka: Změna
Datum vydání normy: 21.12.2011
Kód zboží: NS-560999
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Tato změna (oprava) patří k této normě:
UNE-EN 60749-23:2005
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě.)
Norma vydána dne 16.3.2005
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Doporučujeme:
