UNE-EN 60749-30:2005..
UNE-EN 60749-31:2004..
UNE-EN 60749-32:2004..
UNE-EN 60749-33:2005..
UNE-EN 60749-36:2004..
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-23:2005
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě.
NORMA vydána dne 16.3.2005
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-23:2005
Datum vydání normy: 16.3.2005
Kód zboží: NS-561000
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
K této normě náleží tyto změny:
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Změna
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě.)
Změna vydána dne 21.12.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Podobné normy:
NEPLATNÁ
2.11.2005
18.3.2004
18.3.2004
16.3.2005
20.7.2011
18.3.2004
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
