Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem.
NORMA vydána dne 19.1.2011
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Poznámka: Změna
Datum vydání normy: 19.1.2011
Kód zboží: NS-560995
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Tato změna (oprava) patří k této normě:
UNE-EN 60749-19:2003
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem.)
Norma vydána dne 21.11.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Doporučujeme:
