Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 17331:2004
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Automaticky přeložený název:
Surface chemická analýza - Chemické metody pro sběr prvků z povrchu křemíku plátku pracovní referenční materiály a jejich odhodlání tím, celková-odraz X-ray fluorescence (TXRF) spektroskopie
NORMA vydána dne 18.5.2004
Informace o normě:
Označení normy: ISO 17331:2004
Datum vydání normy: 18.5.2004
Kód zboží: NS-427604
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ISO 17331:2004 :
Description / Abstract: ISO 17331:2004 specifies chemical methods for the collection of iron and/or nickel from the surface of silicon-wafer working reference materials by the vapour-phase decomposition method or the direct acid droplet decomposition method. It applies to iron and/or nickel atomic surface densities from 6 times 10 to the power 9 atoms per square centimetre to 5 times 10 to the power 11 atoms per square centimetre.
K této normě náleží tyto změny:
ISO 17331:2004/Amd1:2010
Změna
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1
(Analyse chimique des surfaces — Méthodes chimiques pour collecter les éléments analysés de tranches de silicium comme matériaux de référence pour l´analyse par spectroscopie de fluorescence X en réflexion totale (TXRF) — Amendement 1)
Změna vydána dne 5.7.2010
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
