Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ISO 14706:2014-ed.2.0
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Automaticky přeložený název:
Surface chemický rozbor - Stanovení povrchové elementárního kontaminace křemíkových plátků podle totální odraz X-ray fluorescence (TXRF) spektroskopie
NORMA vydána dne 25.7.2014
Informace o normě:
Označení normy: ISO 14706:2014-ed.2.0
Datum vydání normy: 25.7.2014
Kód zboží: NS-425696
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
