Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 9-1: Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 14.10.2021
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 14.10.2021
Kód zboží: NS-1041433
Počet stran: 63
Přibližná hmotnost: 189 g (0.42 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0 :
IEC TS 62607-9-1:2021(E) establishes a standardized method to characterize spatially varying magnetic fields with a spatial resolution down to 10 nm for flat magnetic specimens by magnetic force microscopy (MFM). MFM primarily detects the stray field component perpendicular to the sample surface. The resolution is achieved by the calibration of the MFM tip using magnetically nanostructured reference materials.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
