IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 9-1: Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy

NORMA vydána dne 14.10.2021

Anglicky -
Elektronické PDF (10380.60 CZK)

Anglicky -

Tištěné (10380.60 CZK)

Anglicky -

CD-ROM (10418.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 14.10.2021
Počet stran: 63
Přibližná hmotnost: 189 g (0.42 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0 :

IEC TS 62607-9-1:2021(E) establishes a standardized method to characterize spatially varying magnetic fields with a spatial resolution down to 10 nm for flat magnetic specimens by magnetic force microscopy (MFM). MFM primarily detects the stray field component perpendicular to the sample surface. The resolution is achieved by the calibration of the MFM tip using magnetically nanostructured reference materials.