Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
Automaticky přeložený název:
Norma pro rozšíření na standardní testovací rozhraní jazyka (Stil) pro polovodičové design prostředí
NORMA vydána dne 7.11.2007
Označení normy: IEC 62526-ed.1.0
Datum vydání normy: 7.11.2007
Kód zboží: NS-414729
Počet stran: 123
Přibližná hmotnost: 400 g (0.88 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that:(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing information sufficant to define the application of digital test vectors to a DUT;and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 01.05.2024 (Počet položek: 2 896 514)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.