Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62047-10-ed.1.0/Cor.1
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
Automaticky přeložený název:
Oprava 1 - Polovodičové součástky - Micro - elektromechanická zařízení - Část 10 : Micro - sloupek komprese test pro MEMS materiály
NORMA vydána dne 28.2.2012
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62047-10-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Datum vydání normy: 28.2.2012
Kód zboží: NS-414097
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Tato změna (oprava) patří k této normě:
IEC 62047-10-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
(Dispositifs a semiconducteur - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les materiaux des MEMS)
Norma vydána dne 26.7.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
