Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Automaticky přeložený název:
Pozměňovací návrh 1 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19 : Die pevnosti ve smyku
NORMA vydána dne 28.7.2010
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1
Poznámka: Změna
Datum vydání normy: 28.7.2010
Kód zboží: NS-620066
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Tato změna (oprava) patří k této normě:
IEC 60749-19-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)
Norma vydána dne 13.2.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
