Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
Automaticky přeložený název:
Polovodičové zařízení - Integrované obvody - Část 11-1: Vnitřní vizuální prohlídka na polovodičových integrovaných obvodů s výjimkou hybridních obvodů
NORMA vydána dne 1.4.1992
Označení normy: IEC 60748-11-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 1.4.1992
Kód zboží: NS-411319
Počet stran: 71
Přibližná hmotnost: 213 g (0.47 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
The purpose of these tests is to check the internal materials, construction and workmanship of integrated circuits for compliance with the requirements of the applicable specification. Le but de ces essais est de verifier la conformite aux exigences de la specification applicable des materiaux internes utilises, de la fabrication et de lassemblage des circuits integres.
21.12.1994
22.12.1997
1.3.1994
30.6.1988
10.4.1997
10.4.1997
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 27.09.2024 (Počet položek: 2 350 600)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.