Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

IEC 60748-20-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits - Section 1: Requirements for internal visual examination

Automaticky přeložený název:

Polovodičové zařízení - Integrované obvody - Část 20: Kmenová specifikace pro filmové integrovaných obvodů a hybrid filmových integrovaných obvodů - Oddíl 1: Požadavky na vnitřní vizuální prohlídky

NORMA vydána dne 1.3.1994

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 6 089.20 Kč Tištěné - 6 089.20 Kč CD-ROM - 6 129.30 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	6 089.20 Kč bez DPH
6 089.20 Kč

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60748-20-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 1.3.1994
Kód zboží: NS-411338
Počet stran: 55
Přibližná hmotnost: 165 g (0.36 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Integrované obvody. Mikroelektronika

Anotace textu normy IEC 60748-20-1-ed.1.0 :

The purpose of these examinations is to check the internal materials, construction and workmanship of film and hybrid integrated circuits (F and HFICs). These examinations will normally be used prior to tapping or encapsulation to detect and eliminate the F and HFICs with internal defects that could lead to device failure in normal application. Other acceptance criteria may be agreed upon with the purchaser or supplier, respectively. Le but de ces examens est de verifier les materiaux internes, la construction et la qualite dexecution des circuits integres a couches et hybrides a couches (C et CIHC). Ces examens seront normalement effectues prealablement a la fermeture du boitier ou a lencapsulation afin de detecter et deliminer les C et CIHC dont les defauts internes pourraient mener a un echec du dispositif dans son fonctionnement normal. Dautres criteres dacceptation peuvent etre negocies respectivement avec lacheteur ou le fournisseur.