Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 62417:2010-12
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Zkoušky pohyblivých iontů pro tranzistory řízené polem (MOSFET).
NORMA vydána dne 1.12.2010
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 62417:2010-12
Datum vydání normy: 1.12.2010
Kód zboží: NS-239835
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 62417:2010-12 :
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.11.2009
1.9.1994
1.10.2002
1.6.2003
1.10.2001
1.1.2000
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
