DIN EN 62417:2010-12

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).

NORMA vydána dne 1.12.2010

Německy -
PDF - okamžité stažení (1486.90 CZK)

Německy -

Tištěné (1794.30 CZK)

Německy -

CD-ROM (1524.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62417:2010-12
Datum vydání normy: 1.12.2010
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62417:2010-12 :

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).