Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 60749-35:2007-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické součástky zapouzdřené v plastu..
NORMA vydána dne 1.3.2007
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 60749-35:2007-03
Datum vydání normy: 1.3.2007
Kód zboží: NS-237829
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 60749-35:2007-03 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.
Podobné normy:
1.12.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.7.2004
Doporučujeme:
