E DIN 50451-3:2012-1..
DIN 50452-1:1995-11..
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN 50455-1:2009-10
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods.
Automaticky přeložený název:
Zkoušení materiálů na polovodičové technologie - Metody pro charakterizaci fotorezistů - Část 1: Stanovení tloušťky povlaku s optickými metodami.
NORMA vydána dne 1.10.2009
Informace o normě:
Označení normy: DIN 50455-1:2009-10
Datum vydání normy: 1.10.2009
Kód zboží: NS-203877
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN 50455-1:2009-10 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Messverfahren.
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.2.2007
NEPLATNÁ
1.3.2010
NEPLATNÁ
1.11.2012
1.11.1995
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
