Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN 50451-3:2003-04
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Aluminium (Al), cobalt (Co), copper (Cu), sodium (Na), nickel (Ni) and zinc (Zn) in nitric acid by ICP-MS.
Automaticky přeložený název:
Zkoušení materiálů na polovodičové technologie - Stanovení stop prvků v kapalinách - Část 3 : hliník ( AI) , kobaltu (Co ) , mědi (Cu ) , sodík (Na ) , niklu (Ni) a zinku (Zn ) v kyselině dusičné ICP -MS.
NORMA vydána dne 1.4.2003
Informace o normě:
Označení normy: DIN 50451-3:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2003
Kód zboží: NS-203861
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy DIN 50451-3:2003-04 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Elementspuren in Flüssigkeiten - Teil 3: Aluminium (Al), Cobalt (Co), Kupfer (Cu), Natrium (Na), Nickel (Ni) und Zink (Zn) in Salpetersäure mittels ICP-MS.
Doporučujeme:
