Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN 50450-1:1987-08
Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell.
Automaticky přeložený název:
Zkoušení materiálů na polovodičových technologií; stanovení nečistot v nosných plynů a dopingových plynů; stanovení vody nečistoty v vodík, kyslík, dusík, argon a helium pomocí oxidem fosforečným buňku.NORMA vydána dne 1.8.1987
Informace o normě:
Označení normy: DIN 50450-1:1987-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.1987
Kód zboží: NS-203846
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy DIN 50450-1:1987-08 :
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mittels einer Diphosphorpentoxidzelle.
Doporučujeme:
Poslední aktualizace: 29.06.2025 (Počet položek: 2 206 177)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.
Cookies
Cookie - Nastavení 
Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.
