Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell.
NORMA vydána dne 1.8.1987
Označení normy: DIN 50450-1:1987-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.1987
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mittels einer Diphosphorpentoxidzelle.