ČSN IEC 62880-1 (358796)

Polovodičové součástky - Normalizovaná zkouška migrace vyvolaná namáháním - Část 1: Normalizovaná zkouška namáhání mědi. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.6.2018


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena317.90 bez DPH
317.90

Informace o normě:

Označení normy: ČSN IEC 62880-1
Třídící znak: 358796
Katalogové číslo: 505107
Datum vydání normy: 1.6.2018
Kód zboží: NS-848701
Počet stran: 32
Přibližná hmotnost: 96 g (0.21 liber)
Země: Česká technická norma
Kategorie: Technické normy ČSN

Kategorie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotace textu normy ČSN IEC 62880-1 (358796):

Tato norma stanovuje metody stárnutí při stálé teplotě (izotermické) pro zkušební struktury pro měděné (Cu) pokovení na mikroelektronických křemíkových deskách pro stanovení náchylnosti na vytváření dutinek vytvořených namáháním (SIV). Tato metoda se používá při technologickém vývoji výroby na úrovni křemíkových desek a její výsledky slouží k předpovídání životnosti a analýze poruch. Za určitých podmínek je možno tuto metodu využít pro zkoušení pouzder. Metoda není určena pro kontrolu výrobních dávek před odesláním, protože doba zkoušení je dlouhá. Dvojitě damaskované Cu metalizační systémy se obvykle skládají z tantalové (Ta) nebo tantalnitridové (TaN) výstelky, která je utvořena na dně, nebo bocích kanálku v dielektriku, který je vytvořen leptáním dielektrické podložky. Z toho důvodu mohou systémy, které se skládají ze samostatných průchozích kontaktů s širokou vodivou cestou pod nimi, pokud mají chybějící vodivou cestu pod průchodem, vykazovat přerušení stejně, jako to může způsobit procentuální změna odporu, která splňuje kritérium poruchy

Doporučujeme:


Tento web používá soubory cookie. Dalším procházením tohoto webu vyjadřujete souhlas s jejich používáním. Více informací / Rozumím